LED老化壽命測(cè)試儀，高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱，熱沖擊測(cè)試箱，UV紫外線老化測(cè)試機(jī)，鹽霧測(cè)試機(jī)，高低溫測(cè)試箱等儀器是專門用于在規(guī)定的工作和環(huán)境條件下測(cè)試電子產(chǎn)品的儀器。進(jìn)行的工作測(cè)試稱為壽命測(cè)試，也稱為耐久性測(cè)試。隨著LED生產(chǎn)技術(shù)水平的提高，產(chǎn)品的使用壽命和可靠性得到了極大的提高。LED的理論壽命為100,000小時(shí)。如果仍然使用在正常額定應(yīng)力下的常規(guī)壽命測(cè)試，則很難確定產(chǎn)品的壽命和可靠性。進(jìn)行更客觀的評(píng)估，我們的實(shí)驗(yàn)的主要目的是通過壽命測(cè)試來掌握LED芯片的光輸出衰減，然后推斷其壽命。根據(jù)LED器件的特點(diǎn)，通過對(duì)比實(shí)驗(yàn)和統(tǒng)計(jì)分析，規(guī)定了0.3×?0.3mm2以下芯片的壽命測(cè)試條件：

　　●樣品隨機(jī)選擇，數(shù)量為8-10片，制成ф5單燈；

　　●工作電流為30mA；

　　●環(huán)境條件為室溫（25℃±5℃）；

　　●測(cè)試時(shí)間為96小時(shí)，1000小時(shí)和5000小時(shí)